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    作者:世通檢測(cè) 來(lái)源:本站原創(chuàng) 流量:4963 發(fā)布時(shí)間:2014/12/9 16:05:35

     

     

    EMC測(cè)試主要分類:  

    1.EMIElectro-Magnetic  Interference---電磁騷擾測(cè)試  
    測(cè)試目的:檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。  
    EMI
    主要測(cè)試內(nèi)容:  
    Radiated  Emission
    -輻射騷擾測(cè)試  
    Conducted  Emission
    -傳導(dǎo)騷擾測(cè)試  
    Harmonic
    -諧波電流騷擾測(cè)試  
    Flicker
    -電壓變化與閃爍測(cè)試  

     

    2.EMSElectro-Magnetic  Susceptibility---電磁抗擾度測(cè)試  
    測(cè)試目的:檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作,不受影響。  

    EMS
    主要測(cè)試內(nèi)容:  
    ESD
    -靜電抗擾度測(cè)試  
    RS
    -射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試  
    CS
    -射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試  
    DIP
    -電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試  
    SURGE
    -浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試  
    EFT
    -電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試  
    PFMF
    -工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試


      



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