> 標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)

傳感器EMC（電磁兼容性）測(cè)試是確保傳感器在電磁環(huán)境中能夠正常工作且不對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾的重要環(huán)節(jié)。

一、測(cè)試目的

抗干擾能力：驗(yàn)證傳感器在外部電磁干擾（如靜電放電、射頻輻射、電快速瞬變脈沖群等）下的正常工作能力。

發(fā)射限值：確保傳感器產(chǎn)生的電磁干擾（如輻射發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射）不超過(guò)規(guī)定限值，避免對(duì)其他設(shè)備造成干擾。

二、主要測(cè)試項(xiàng)目

根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如CISPR、IEC、EN等）和行業(yè)要求，傳感器EMC測(cè)試通常包括以下項(xiàng)目：

1.電磁發(fā)射測(cè)試

輻射發(fā)射（RE）：測(cè)量傳感器通過(guò)空間輻射的電磁能量，頻率范圍通常為30MHz至1GHz（或更高，如6GHz）。

傳導(dǎo)發(fā)射（CE）：測(cè)量傳感器通過(guò)電源線或信號(hào)線傳導(dǎo)的電磁干擾，頻率范圍通常為150kHz至30MHz。

諧波電流發(fā)射：針對(duì)交流供電的傳感器，測(cè)量其輸入電流中的諧波成分。

電壓波動(dòng)和閃爍：評(píng)估傳感器對(duì)電網(wǎng)電壓的影響。

2.電磁抗擾度測(cè)試

靜電放電抗擾度（ESD）：模擬人體或物體對(duì)傳感器的靜電放電，測(cè)試等級(jí)通常為±4kV（接觸放電）和±8kV（空氣放電）。

射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度（RS）：測(cè)試傳感器在80MHz至6GHz頻率范圍內(nèi)的射頻電磁場(chǎng)干擾下的工作穩(wěn)定性。

電快速瞬變脈沖群抗擾度（EFT）：模擬電網(wǎng)中開(kāi)關(guān)操作產(chǎn)生的瞬態(tài)干擾，測(cè)試電壓通常為±2kV（電源線）和±1kV（信號(hào)線）。

浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）：模擬雷擊或電源切換產(chǎn)生的瞬態(tài)過(guò)電壓，測(cè)試電壓通常為±1kV（線對(duì)線）和±2kV（線對(duì)地）。

射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（CS）：測(cè)試傳感器在0.15MHz至80MHz頻率范圍內(nèi)通過(guò)電源線或信號(hào)線傳導(dǎo)的射頻干擾。

工頻磁場(chǎng)抗擾度：測(cè)試傳感器在工頻磁場(chǎng)環(huán)境下的抗擾度。

電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度：評(píng)估傳感器在電網(wǎng)電壓波動(dòng)下的工作能力。

三、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

傳感器EMC測(cè)試通常遵循以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

CISPR 22/EN 55022：信息技術(shù)設(shè)備的輻射和傳導(dǎo)發(fā)射限值。

IEC 61000-6-3/EN 55032：多媒體設(shè)備的電磁發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)。

IEC 61000-4-2：靜電放電抗擾度測(cè)試。

IEC 61000-4-3：射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試。

IEC 61000-4-4：電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試。

IEC 61000-4-5：浪涌抗擾度測(cè)試。

IEC 61000-4-6：射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試。

四、測(cè)試流程

確定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和要求：根據(jù)傳感器的應(yīng)用場(chǎng)景（如工業(yè)、醫(yī)療、汽車等）選擇合適的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

準(zhǔn)備測(cè)試樣品：確保傳感器處于正常工作狀態(tài)，并配備必要的測(cè)試附件（如電源、信號(hào)線等）。

搭建測(cè)試環(huán)境：在屏蔽室或電波暗室中進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試，在屏蔽室或測(cè)試臺(tái)上進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射和抗擾度測(cè)試。

執(zhí)行測(cè)試：按照測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的要求，依次進(jìn)行各項(xiàng)發(fā)射和抗擾度測(cè)試。

記錄和分析測(cè)試結(jié)果：判斷傳感器是否滿足測(cè)試限值要求。

生成測(cè)試報(bào)告：包括測(cè)試條件、測(cè)試數(shù)據(jù)、結(jié)果分析和結(jié)論。

五、測(cè)試設(shè)備

EMI測(cè)試接收機(jī)/頻譜分析儀：用于測(cè)量電磁發(fā)射。

信號(hào)發(fā)生器/功率放大器：用于產(chǎn)生抗擾度測(cè)試所需的干擾信號(hào)。

天線：用于輻射發(fā)射和輻射抗擾度測(cè)試。

LISN（線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)）：用于傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試。

ESD模擬器、耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）、浪涌發(fā)生器等：用于抗擾度測(cè)試。

六、常見(jiàn)問(wèn)題及整改措施

輻射發(fā)射超標(biāo)：優(yōu)化PCB布局、增加屏蔽層、使用濾波器。

傳導(dǎo)發(fā)射超標(biāo)：增加電源濾波器、優(yōu)化接地設(shè)計(jì)。

抗擾度測(cè)試失?。杭訌?qiáng)屏蔽設(shè)計(jì)、增加瞬態(tài)抑制器件（如TVS二極管）。

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